シラバスの詳細な内容を表示します。
→ 閉じる(シラバスの一覧にもどる)
開講年度 | 2019 年度 | |
---|---|---|
開講区分 | 工学研究科(博士前期課程)情報工学専攻 | |
領域 | 主領域 : C; 副領域 : G | |
受講対象学生 |
大学院(修士課程・博士前期課程・専門職学位課程) : 1年次, 2年次 |
|
選択・必修 | ||
授業科目名 | パターン情報処理特論 | |
ぱたーんじょうほうしょりとくろん | ||
Pattern information processing | ||
単位数 | 2 単位 | |
ナンバリングコード | EN-INAP-5
※最初の2文字は開講主体、続く4文字は分野、最後の数字は開講レベルを表します。 |
|
開放科目 | 非開放科目 | |
開講学期 |
前期 |
|
開講時間 |
火曜日 1, 2時限 |
|
開講場所 | 授業時間割表で確認ください。 | |
担当教員 | 成瀬央(工学研究科情報工学専攻) | |
Hiroshi NARUSE |
授業の概要 | パターン情報処理は、計測技術やシステムなどいろいろな分野で用いられている。学部(情報工学科)、大学院博士前期課程(情報工学専攻)では上記分野についての授業がないことから、この授業ではまず、計測誤差、誤差の伝播、誤差の統計的の取り扱い、最小二乗法によるあてはめなどの基本的事項について学習する。またそれを踏まえて、線形・非線形最小二乗法による最適化について学習する。この講義では、自主的な学習が求められます。 |
---|---|
学修の目的 | 偶然誤差と系統誤差、計測誤差とその統計的性質、計測誤差の評価方法と間接測定における誤差の伝播、最小二乗法による最良推定値の求め方などについての知識を得る。 |
学修の到達目標 | 以下の内容について知り、さまざまな計測へ応用することができるようになる。 ・偶然誤差と系統誤差 ・計測誤差とその統計的性質 ・計測誤差の評価方法と間接測定における誤差の伝播 ・最小二乗法による最良推定値の求め方 |
ディプロマ・ポリシー |
|
成績評価方法と基準 | 課題レポート提出、試験、プレゼンテーションなど総合的に評価します |
授業の方法 | 講義 演習 |
授業の特徴 | |
授業改善の工夫 | 授業での質問、授業評価アンケートを参考に改善を図ります |
教科書 | |
参考書 | ・An introduction to error analysis, John R. Taylor. ・『誤差解析入門』林茂郎・馬場凉,東京化学同人社 ・『最小二乗法による実験データ解析』中川徹・小柳義夫,東京大学出版会 |
オフィスアワー | 質問、連絡などについては、電子メール(naruse@pa.info.mie-u.ac.jp)でスケジュールを調整の上情報棟3階成瀬教員室で対応するが、なるべく講義時あるいは終了時にお願いしたい。 |
受講要件 | 特になし |
予め履修が望ましい科目 | 学部での線形代数、微分積分、確率統計を履修していることが必須です。 |
発展科目 | 特にありません |
その他 |
英語対応授業である。 本講義では、学部での講義のうち、線形代数(固有値、固有ベクトル、対角化)微分積分(テーラー展開、ベクトル・行列の微分)などのついての十分な理解と計算ができることが必要です。 |
MoodleのコースURL |
---|
キーワード | 偶然誤差と系統誤差、計測誤差とその統計的性質、計測誤差の評価方法と間接測定における誤差の伝播、最小二乗法による最良推定値の求め方 |
---|---|
Key Word(s) | |
学修内容 | 第1回:講義の概要、進め方の説明 第2回~~第9回:誤差解析の必要性、有効数字、誤差の伝播、偶然誤差の統計的取り扱い、最小二乗法によるあてはめ 第10回~第15回:線形・非線形最小二乗法 受講生の理解度によって、学習内容やスケジュールを変更します。 |
事前・事後学修の内容 | 本講義の基礎となる、線形代数(固有値、固有ベクトル、対角化)、微分積分(テーラー展開、ベクトル・行列の微分、偏微分)などのついては十分復習しておき、それらの計算ができるようにしておくことが求められます。 |