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| 開講年度 | 2018 年度 | |
|---|---|---|
| 開講区分 | 工学部分子素材工学科 ・専門教育 | |
| 受講対象学生 |
学部(学士課程) : 3年次 |
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| 選択・必修 | 選択必修 |
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| 授業科目名 | 資源利用化学 | |
| しげんりようかがく | ||
| Resources Chemistry | ||
| 単位数 | 2 単位 | |
| 他学部・他研究科からの受講 |
他学部の学生の受講可 |
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| 市民開放授業 | 市民開放授業 | |
| 開講学期 |
後期 |
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| 開講時間 |
水曜日 3, 4時限 |
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| 開講場所 | ||
| 担当教員 | 金子 聡（工学部分子素材工学科） | |
| 授業の概要 | 資源を利用するためには、含有する化学物質を正確に計測する手段が必要である。産業及び工学的に利用されている化学物質を、分析･解析する手段である機器分析法を学習する。本講義を通じて化学分野で使われている分析機器の原理、理論、構造・構成及び応用についての知識を修得し、以て科学的研究に資することを目的とする。 |
|---|---|
| 学習の目的 | 講義が終了した時点で、機器分析法の一般的な知識が習得できる。 |
| 学習の到達目標 | 本講義は化学物質の分析及び解析に不可欠な機器分析法を原理から応用までマスターさせるために開講している。 |
| ディプロマ・ポリシー |
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| 授業の方法 | 講義 |
| 授業の特徴 | |
| 教科書 | エキスパート応用化学テキストシリーズ 機器分析 ISBN: 978-4-06-156807-5 |
| 参考書 | |
| 成績評価方法と基準 | 出席（40%）と授業中のレポート及び期末試験の成績（60%）により総合的に評価する。 |
| オフィスアワー | 月曜日～金曜日12:00～12:50、基本的にはこの時間帯ですが、質問などがある場合にはいつでも気軽に質問に来て下さい。分子素材工学棟4階3421室 |
| 受講要件 | 特になし |
| 予め履修が望ましい科目 | 分析化学Ｉ |
| 発展科目 | |
| 授業改善への工夫 | 授業中に学生の反応（理解度）を勘案しながら、授業後の学生の意見を参考にして、学生の授業評価アンケートの結果等も参考にし、授業の工夫、組み立て、説明を行う。さらに、授業に関する興味深い話題や知識を盛り込んで授業を進める。 |
| その他 |
| キーワード | 機器分析法 定量分析 定性分析 電磁波分析 電気分析 分離分析 |
|---|---|
| Key Word(s) | Apparatus analysis, quantitative analysis, qualitative analysis, electromagnetic wave analysis, electroanalysis, separation analysis |
| 学習内容 | 第１回 総論，機器分析とは？ 機器分析法の位置づけ・分類、機器分析法の利点・欠点 第２回 吸光光度分析法･紫外吸収スペクトル分析法 吸光光度分析法および紫外吸収スペクトル分析法は、最も基礎的な機器分析法である。本法の原理・理論、装置の仕組み、分析化学的応用について学習する。 第３回 蛍光分析法 蛍光分析法の原理・理論、装置の仕組み、分析化学的応用について修得する。 第４回 原子スペクトル分析の概要、原子吸光分析法 無機の微量元素の分析法と有効な原子スペクトル分析法の概要を理解する。 第５回 黒鉛炉原子吸光分析法･フレ－ム分析法・ＩＣＰ発光分析法 原子吸光分析･フレ－ム分析･ＩＣＰ発光分析法の理論、原理、応用について学習する。 第６回 ガスクロマトグラフ分析法 クロマトグラフ法は化学物質分離分析法として重要な分析法である。クロマトグラフィー分析法の理論、原理について学習し、ガスクロマトグラフ分析法を習得する。 第７回 高速液体クロマトグラフ分析法 有機化合物の分析法として有用な高速液体クロマトグラフ分析法の概要を理解する。 第８回 熱分析法 熱重量測定ＴＧ、示差熱分析ＤＴＡ、示差熱量測定ＤＳＣを学ぶ。 第９回 質量分析法 近年とみにその有効性が増してきた質量分析法の原理等について学習する。 第１０回 外部講師（企業）によるセミナー 第１１回 Ｘ線分析法･光電子分光分析法 Ｘ線分析法･光電子分光分析法の原理・理論，装置の仕組み、分析化学的応用について学習する。 第１２回 核磁気共鳴吸収法（ＮＭＲ）・電子スピン共鳴分析法（ＥＳＲ） 核磁気共鳴吸収法と電子スピン共鳴分析法の原理・理論、装置の仕組み、分析化学的応用について修得する。 第１３回 電子顕微鏡・走査型プローブ顕微鏡分析 表面分析法として重要な電子顕微鏡・走査型プローブ顕微鏡分析法の原理・理論、装置の仕組みを学習し、ナノスケールを視覚的に解析する方法を習得する。 第１４回 放射能分析法 その１ 第１５回 放射線分析法 その２ |
| 事前・事後学修の内容 | 講義を受講する前に、必ず教科書を読んでくること。受講後、講義中に説明された機器分析法を次回までに復習しておくこと。 |
| ナンバリングコード(試行) | EN-INAN-3 |
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※最初の2文字は開講主体、続く4文字は分野、最後の数字は開講レベルを表します。 ナンバリングコード一覧表はこちら