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| 開講年度 | 2017 年度 | |
|---|---|---|
| 開講区分 | 工学研究科(博士前期課程)電気電子工学専攻 | |
| 領域 | 主領域 : E | |
| 受講対象学生 |
大学院(修士課程・博士前期課程・専門職学位課程) : 2年次 |
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| 選択・必修 | ||
| 授業科目名 | 量子エレクトロニクス演習 | |
| りょうしえれくとろにくすえんしゅう | ||
| Seminar in Quantum Electronics | ||
| 単位数 | 2 単位 | |
| 他学部・他研究科からの受講 |
他専攻の学生の受講可, 自専攻の学生の受講可, 自研究科の学生の受講可 |
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| 市民開放授業 | 市民開放授業ではない | |
| 開講学期 |
前期 |
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| 開講時間 |
木曜日 9, 10, 11, 12時限 開講時間は受講者全員と相談して変更することもあります． |
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| 開講場所 | 工学部電子情報棟（受講者と相談して決定する） | |
| 担当教員 | 永井 滋一（工学研究科電気電子工学専攻） | |
| Shigekazu Nagai | ||
| 授業の概要 | 原子分解能をもつ電界イオン顕微鏡およびアトムプローブ分析法による組成分析は，表面原子配列の観察だけで無く、近年需要が増している電界電離型希ガスイオン源への応用が期待されている．当該講義では，電界電離現象および組成分析法について取り上げた著書を輪講形式で読解する． |
|---|---|
| 学習の目的 | ナノテクノロジーおよび表面分析に必要な基礎知識およびその計測方法を習得する． |
| 学習の到達目標 | 材料研究に用いられるナノスケールでの表面物性計測法の原理について学ぶ．本演習では，特に電界イオン顕微鏡法および飛行時間型質量分析法の動作原理をはじめ，応用例までを理解する事を目的とする． |
| ディプロマ・ポリシー |
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| 授業の方法 | 演習 |
| 授業の特徴 | |
| 教科書 | Atom-probe field ion microscopy |
| 参考書 | |
| 成績評価方法と基準 | 出席および授業での発表と学習姿勢を評価する． |
| オフィスアワー | 適宜 |
| 受講要件 | 該当無し |
| 予め履修が望ましい科目 | 該当無し |
| 発展科目 | |
| 授業改善への工夫 | |
| その他 |
●遅刻，無断欠席をしないように． ●他の受講者に迷惑をかけますので，担当する部分は必ず期限までに実施のこと． |
| キーワード | 表面物理,電界イオン顕微鏡法，アトムプローブ質量分析法 |
|---|---|
| Key Word(s) | Surface physics, field ion microscopy，Atom-probe mass spectrometry |
| 学習内容 | 第1〜２回 Atomic structure of solid surfaces 第３〜４回 Atomic reconstruction of metal surfaces 第5~6回 Image structure of alloy surfaces 第７〜８回 Atomic structure of thin films 第9回 Principle of surface diffusion by random walk 第10~１１回 FIM study of single adsorbed atoms 第12~13回 Interactions between surface atoms 第14~15回 Charge distribution and electronic density of states of adatom 第16回 Effective polarizability of surface atoms |
| 学習課題(予習・復習) | 演習は輪講形式で行うので，テキスト内容についてよく調べ，他の参加者が理解できるように発表準備をする。 |
| ナンバリングコード(試行) | EN-EMAT-5 |
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※最初の2文字は開講主体、続く4文字は分野、最後の数字は開講レベルを表します。 ナンバリングコード一覧表はこちら