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| 開講年度 | 2018 年度 | |
|---|---|---|
| 開講区分 | 工学研究科(博士前期課程)機械工学専攻 | |
| 領域 | 主領域 : E; 副領域 : G | |
| 受講対象学生 |
大学院(修士課程・博士前期課程・専門職学位課程) : 1年次, 2年次 |
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| 選択・必修 | ||
| 授業科目名 | ナノテクノロジー演習 | |
| なのてくのろじーえんしゅう | ||
| Seminar in Nano-scale Technology | ||
| 単位数 | 1 単位 | |
| 他学部・他研究科からの受講 |
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| 市民開放授業 | 市民開放授業ではない | |
| 開講学期 |
後期 |
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| 開講時間 |
火曜日 1, 2時限 |
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| 開講場所 | 受講人数により変わるために未定 | |
| 担当教員 | 高橋 裕（工学研究科機械工学専攻） | |
| TAKAHASHI, Yutaka | ||
| 授業の概要 | 分析法や評価法に関する概説書を輪読し、測定原理、装置構成と適用例を理解する。各人に分担を与え、内容を全員に対して説明する形式で進める。必要に応じて説明を補足する。 |
|---|---|
| 学習の目的 | ナノテクノロジーに限らず基本的な分析法の原理と実際の測定機の知識を得る。さらに輪読形式であるために、自分の担当分の発表のための情報収集に関する技術も習得できる。 |
| 学習の到達目標 | 分析評価する対象が与えられた場合、どの分析法を選択すれば一番適切か、その分析法の長所短所を知ったうえでの実施などが可能になる能力が身に付く。 |
| ディプロマ・ポリシー |
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| 授業の方法 | 演習 |
| 授業の特徴 | |
| 教科書 | 輪読時にプリントを配布する。当番の学生は人数分だけ印刷しておくこと。 |
| 参考書 | 特になし |
| 成績評価方法と基準 | 全回出席と当番の時の説明の出来具合で評価する。ただし、止むを得ない所用がある場合の欠席は認可とする。 |
| オフィスアワー | 開講曜日にあわせて、毎週火曜日13:00～14:00 合同棟２F 7206室 |
| 受講要件 | 特になし |
| 予め履修が望ましい科目 | ナノテクノロジー特論 |
| 発展科目 | |
| 授業改善への工夫 | 単に知識の習得を目的とするのではなく、人に対して説明するコミュニケーション力の涵養に対する指導も行う。 |
| その他 |
英語対応授業である。 |
| キーワード | 電磁波(光)を利用する分析, 電子を利用する分析, イオンや荷電粒子を利用する分析, バルク分析, 微量分析, 表面分析, 界面の分析, 深さ分析 |
|---|---|
| Key Word(s) | analysis method, electromagnetic wave and light, electron, ion and charged particle, bulk analysis, microanalysis, suface analysis, depth profile |
| 学習内容 | 第１回 既存の分析法の紹介 第２回 赤外分光 第３回 ラマン分光 第４回 原子吸光分析 第５回 蛍光X線分光 第６回 EPMA 第７回 EXAFS 第８回 XPS 第９回 オージェ電子分光 第１０回 EELS 第１１回 TOF-MS 第１２回 SIMS 第１３回 RBS 第１４回 イオン散乱分光 第１５回 SPM |
| 事前・事後学修の内容 | 輪読の当番の学生は事前に良くテキストを読んで自分自身が理解していることは当然であるが、聞いた各人がわかるように説明できるように話す内容を準備すること。テキストの文章を単に読み上げることは不可とする。 |
| ナンバリングコード(試行) | EN-PROC-5 |
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※最初の2文字は開講主体、続く4文字は分野、最後の数字は開講レベルを表します。 ナンバリングコード一覧表はこちら