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科目の基本情報

開講年度 2017 年度
開講区分 工学研究科(博士前期課程)機械工学専攻
領域 主領域 : E
受講対象学生 大学院(修士課程・博士前期課程・専門職学位課程) : 1年次, 2年次
選択・必修
授業科目名 ナノテクノロジー演習
なのてくのろじーえんしゅう
Seminar in Nano-scale Technology
単位数 1 単位
他学部・他研究科からの受講
市民開放授業 市民開放授業ではない
開講学期

後期

開講時間 火曜日 1, 2時限
開講場所 受講人数により変わるために未定

担当教員 高橋 裕(工学研究科機械工学専攻)

TAKAHASHI, Yutaka

学習の目的と方法

授業の概要 分析法や評価法に関する概説書を輪読し、測定原理、装置構成と適用例を理解する。各人に分担を与え、内容を全員に対して説明する形式で進める。必要に応じて説明を補足する。
学習の目的 ナノテクノロジーにおいて基本的な分析法の知識を得るとともに、発表のための情報収集に関する技術も習得できる。
学習の到達目標 分析評価する対象が与えられた場合、どの分析法を選択すれば一番適切か、その分析法の長所短所を知ったうえでの実施などが可能になる能力が身に付く。
ディプロマ・ポリシー
○ 学科・コース等の教育目標
○ JABEE 関連項目

○ 全学の教育目標
感じる力
  •  感性
  •  共感
  •  倫理観
  •  モチベーション
  •  主体的学習力
  •  心身の健康に対する意識
考える力
  •  幅広い教養
  • ○専門知識・技術
  •  論理的思考力
  • ○課題探求力
  • ○問題解決力
  •  批判的思考力
コミュニケーション力
  •  情報受発信力
  •  討論・対話力
  •  指導力・協調性
  •  社会人としての態度
  •  実践外国語力
生きる力
  •  感じる力、考える力、コミュニケーション力を総合した力

授業の方法 演習

授業の特徴

教科書 輪読時にプリントを配布する。当番の学生は人数分だけ印刷しておくこと。
参考書 特になし
成績評価方法と基準 全回出席と当番の時の説明の出来具合で評価する。ただし、止むを得ない所用がある場合の欠席は認可とする。
オフィスアワー 開講曜日にあわせて、毎週火曜日13:00~14:00 合同棟2F 7206室
受講要件 特になし
予め履修が望ましい科目 ナノテクノロジー特論
発展科目
授業改善への工夫
その他

授業計画

キーワード 電磁波(光)を利用する分析, 電子を利用する分析, イオンや荷電粒子を利用する分析, バルク分析, 微量分析, 表面分析, 界面の分析, 深さ分析
Key Word(s) analysis method, electromagnetic wave and light, electron, ion and charged particle, bulk analysis, microanalysis, suface analysis, depth profile
学習内容 第1回  既存の分析法の紹介
第2回  赤外分光
第3回  ラマン分光
第4回  原子吸光分析
第5回  蛍光X線分光
第6回  EPMA
第7回  EXAFS
第8回  XPS
第9回  オージェ電子分光
第10回 EELS
第11回 TOF-MS
第12回 SIMS
第13回 RBS
第14回 イオン散乱分光
第15回 SPM
学習課題(予習・復習) 輪読の当番の学生は事前に良くテキストを読んで自分自身が理解していることは当然であるが、聞いた各人がわかるように説明できるように話す内容を準備すること。テキストの文章を単に読み上げることは不可とする。
ナンバリングコード(試行) EN-PROC-5

※最初の2文字は開講主体、続く4文字は分野、最後の数字は開講レベルを表します。 ナンバリングコード一覧表はこちら


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